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臺階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺階儀測量薄膜厚度,臺階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動探索樣品表面
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ET200A基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半 導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、 薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高 精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。
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ET200A基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半 導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、 薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高 精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。
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國內(nèi)總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 國內(nèi)總代kosaka小板 非接觸式探測器總代
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國內(nèi)總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 kosaka小板表面粗糙儀載物臺驅(qū)動型國內(nèi)總代
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國內(nèi)總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 總代kosaka小板精密緊湊高性能的3D測量
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國內(nèi)總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 日本KOSAKA小坂粗糙度儀SE800粗糙儀總代理
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國內(nèi)總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 表面粗糙測定儀SE300小坂KOSAKA塔瑪薩崎總代理
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國內(nèi)總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 小坂KOSAKA臺階儀表面粗糙測定儀SE300-30總代
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國內(nèi)總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機(jī)
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國內(nèi)總代非接觸式探測器KOSAKA小坂可測量12~500微米非接觸式測量允許在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測量。 緊湊的光學(xué)布置可實(shí)現(xiàn)內(nèi)徑的表面紋理測量，這在現(xiàn)有的非接觸式檢測器中是困難的。
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國內(nèi)總代載物臺驅(qū)動表面粗糙度測量KOSAKA總代這種工作臺移動測量機(jī)具有很高的直線度測量精度，可以輕松準(zhǔn)確地測量小而**的零件。 使用數(shù)字秤進(jìn)行數(shù)字采樣 檢測器固定移動工作臺式
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國內(nèi)總代三維表面粗糙度KOSAKA小坂臺階儀3D測量可以在**表面粗糙度測量機(jī)上添加三維表面粗糙度測量功能。 您可以使用“線和表面”深入評估目標(biāo)表面。
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國內(nèi)總代日本KOSAKA小坂粗糙度儀測量SE800國內(nèi)總代它可以根據(jù)ISO，JIS，DIN，ASME和BS等國際標(biāo)準(zhǔn)以及每個(gè)國家的新舊標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測量。 為此，可以使用各種濾波器、截止值、測量長度和計(jì)算方法。
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國內(nèi)總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量儀器SE500A它可強(qiáng)力執(zhí)行表面粗糙度、波紋度測量和階梯測量。 它支持多種參數(shù)，可以同時(shí)分析多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。 它是一種精密、緊湊和高性能的測量機(jī)，具有高度可擴(kuò)展性，適用于所有應(yīng)用。
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江蘇總代KOSAKA全自動微形測量機(jī)臺階儀3D 可以在**表面粗糙度測量機(jī)上添加三維表面粗糙度測量功能。 您可以使用“線和表面”深入評估目標(biāo)表面。
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總代日本小坂KOSAKA表面粗糙度儀 SE800(3D)它可以根據(jù)ISO，JIS，DIN，ASME和BS等國際標(biāo)準(zhǔn)以及每個(gè)國家的新舊標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測量。 為此，可以使用各種濾波器、截止值、測量長度和計(jì)算方法。
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國內(nèi)總代kosak小板精密緊湊高性能的測量儀器SE500A它可強(qiáng)力執(zhí)行表面粗糙度、波紋度測量和階梯測量。 它支持多種參數(shù)，可以同時(shí)分析多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。 它是一種精密、緊湊和高性能的測量機(jī)，具有高度可擴(kuò)展性，適用于所有應(yīng)用。
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KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18/D（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
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KOSAKA小坂小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
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KOSAKA小坂臺階儀小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
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小坂研究所（KOSAKA）SE500A-18/D是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
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日本小坂臺階儀表面粗度測定儀SE500A-58/D株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸
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代理KOSAKA小坂臺階儀表面粗度測定儀SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。
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國內(nèi)總代粗糙度輪廓測量DSF-L800小坂臺階儀KOSAKA這是一款數(shù)字表面形狀和粗糙度測量機(jī)，能夠以高分辨率測量寬動態(tài)范圍。位移檢測器中嵌入了一個(gè)數(shù)字傳感器，只需一次掃描即可同時(shí)測量“輪廓形狀”和“表面粗糙度”。更先進(jìn)的分析功能，平臺表面分析軟件和接觸點(diǎn)過濾器是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。 標(biāo)配探測器過載停止功能。
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SEF800-N粗糙度輪廓測量機(jī)KOSAKA國內(nèi)總代 它集成了表面粗糙度測量機(jī)和輪廓形狀測量機(jī)，一個(gè)單元可以進(jìn)行粗糙度起伏評估和形狀評估。表面粗糙度測量它支持國家標(biāo)準(zhǔn)。配備垂直軸和水平軸自動校準(zhǔn)功能。自動測量到打印。輪廓形狀測量多截面形狀分析。強(qiáng)大的宏功能，“一鍵操作”方式。測量操作支持。
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國內(nèi)總代KOSAKA表面粗糙度和輪廓形狀測量機(jī)SEF580A-G18D可以進(jìn)行“表面粗糙度”和“輪廓形狀”的兩種測量。 觸摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切換測量條件”，并且可以快速響應(yīng)各種工件的測量。表面粗糙度測量可以在一次測量中分析具有不同標(biāo)準(zhǔn)的參數(shù)，并且可以順利過渡到新標(biāo)準(zhǔn)。輪廓形狀測量X軸上的*大測量采樣點(diǎn)數(shù)高達(dá)64，000，可實(shí)現(xiàn)高分辨率的長距離測量。
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輪廓形狀測量機(jī)EF800小坂臺階儀kosaka總代這是一款高性能輪廓形狀測量機(jī)，具有超高速運(yùn)動和完整的分析功能。標(biāo)配探測器過載停止功能。自定義功能允許您設(shè)置常用功能的快捷方式。重新測量功能允許輕松重新測量，并且不需要新的程序進(jìn)行重新測量。
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KOSAKA小坂臺階儀輪廓形狀測量機(jī)EF550A內(nèi)置分析宏支持為復(fù)雜的分析工作節(jié)省人力。該測量機(jī)具有很高的便攜性和安裝靈活性。 實(shí)時(shí)輸出功能提供測量的放大形狀數(shù)據(jù)。通過與輪廓剖面分析系統(tǒng)連接，可以進(jìn)行更**的分析。
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KOSAKA小坂臺階儀小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
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小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
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小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
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株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機(jī)KOSAKA小坂高精度自動測量樣品臺階儀ET8000國內(nèi)總代
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日本**代理KOSAKA小坂ET4000M臺階儀這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內(nèi)總代硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機(jī) ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機(jī) ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機(jī)
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代理KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000L臺階儀總代這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內(nèi)總代硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機(jī) ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機(jī) ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機(jī)
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這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內(nèi)總代硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機(jī) ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機(jī) ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機(jī)
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小坂臺階儀膜厚儀探針接觸式ET200A-3D國內(nèi)總代 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇 ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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Kosaka小坂ET200A粗糙度三維6寸臺階儀總代 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇 ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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Kosaka小坂ET200A粗糙度三維6寸臺階儀總代 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇 ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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華東總代KOSAKA小坂高精度測量樣品尺寸臺階儀ET8000 可以高精度自動測量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個(gè)加載/卸載樣品的選項(xiàng)。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET-4000M薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET4000L薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET4000薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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國內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細(xì)形狀測定機(jī)ET200A-3D 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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國內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細(xì)形狀測定機(jī)ET200A-D 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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國內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細(xì)形狀測定機(jī)ET200AET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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江蘇總代FP3030 KOSAKA小坂臺階儀細(xì)孔測量機(jī)*小測量孔直徑 φ10μm~/ *大測量長度300×300×300微米/測量分辨率10納米/測量力 0.1μN(yùn)以下/移動軸 （X，Y，Z）305×370×52毫米/*大樣本量φ300毫米 T=50毫米
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華東總代KOSAKA小坂臺階儀FP-Labo 細(xì)孔測量機(jī)*小測量孔直徑φ10μm~*大測量長度300×300×300微米/測量分辨率10納米/測量力 0.1μN(yùn)以下/移動軸 （X，Y，Z）50×50×52毫米/*大樣本φ160毫米 T=50毫米
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國內(nèi)總代KOSAKA小坂微細(xì)形狀測定機(jī)臺階儀ET8000可以高精度自動測量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個(gè)加載/卸載樣品的選項(xiàng)。
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國內(nèi)總代全新KOSAKA小坂ET4000M微細(xì)形狀測定機(jī)臺階儀 蘇州有售這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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國內(nèi)總代KOSAKA 臺階儀探針接觸輪廓儀微細(xì)測定ET4000L 蘇州有售這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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國內(nèi)總代KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A 蘇州有售這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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國內(nèi)總代 KOSAKA小坂膜厚儀探針接觸式臺階儀ET200A-3D能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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國內(nèi)總代KOSAKA探針接觸式臺階儀 2/3 維表面粗度ET200A-D。它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。
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國內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細(xì)形狀測定機(jī)ET200AET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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蘇州總代KOSAKA全自動微形測量機(jī)臺階儀ET8000這款可以高精度自動測量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個(gè)加載/卸載樣品的選項(xiàng)。全自動用于測量大型工件。 *大樣本量2200×2600毫米，測量范圍X：10毫米 Y：10毫米
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江蘇供應(yīng)日本小坂臺階儀ET-4000M全新這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A： 多功能全自動微形測量機(jī)ET4000L： 全自動微形測量機(jī)，可處理大尺寸ET4000M：合理高性能的通用微形測量機(jī)
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國內(nèi)總代ET4000L全新日本小坂KOSAKA臺階儀 這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A： 多功能全自動微形測量機(jī)ET4000L： 全自動微形測量機(jī)，可處理大尺寸ET4000M：合理高性能的通用微形測量機(jī)
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國內(nèi)總代KOSAKA多功能全自動微形測量機(jī)臺階儀ET4000A這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A： 多功能全自動微形測量機(jī)ET4000L： 全自動微形測量機(jī)，可處理大尺寸ET4000M：合理高性能的通用微形測量機(jī)
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國內(nèi)總代小坂臺階儀膜厚探針接觸式高度ET200A-3D 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
